Heide, J.* ; Ehlert, S.* ; Koziorowski, T.* ; Rüger, C.P.* ; Walte, A.* ; Zimmermann, R.
Analyst 147, 3662-3674 (2022)
Gehm, C.* ; Schnepel, K.* ; Czech, H. ; Miersch, T.* ; Ehlert, S.* ; Zimmermann, R.
Analyst 146, 3137-3149 (2021)
Torrentó, C.* ; Bakkour, R.* ; Glauser, G.* ; Melsbach, A. ; Ponsin, V.* ; Hofstetter, T.B.* ; Elsner, M. ; Hunkeler, D.*
Analyst 144, 2898–2908 (2019)
Zhou, H.* ; Wang, Q.* ; Yuan, D.* ; Wang, J.* ; Huang, Y.* ; Wu, H.* ; Jian, J.* ; Yang, D.* ; Huang, N.* ; Haisch, C.* ; Jiang, Z.* ; Chen, S.
Analyst 141, 4293-4298 (2016)
Schmidt, A.M.* ; Fagerer, S.R.* ; Jefimovs, K.* ; Buettner, F. ; Marro, C.* ; Siringil, E.C.* ; Boehlen, K.L.* ; Pabst, M.* ; Ibáñez, A.J.*
Analyst 139, 5709-5717 (2014)
Tang, Z.* ; Li, S.* ; Guan, X.* ; Schmitt-Kopplin, P. ; Lin, S.* ; Cai, Z.*
Analyst 139, 5600-5604 (2014)
Krämer, P.M. ; Keß, M. ; Kremmer, E. ; Schulte-Hostede, S.
Analyst 136, 692-695 (2011)
Nischwitz, V. ; Michalke, B. ; Kettrup, A.
Analyst 128, 109-115 (2003)
Bunzl, K. ; Schimmack, W. ; Schramel, P. ; Suomela, M.*
Analyst 124, 1383-1387 (1999)
Bunzl, K.W. ; Kracke, W. ; Schimmack, W.
Analyst 117 3, 469-474 (1992)