Bader, M. ; Mc Larney, B.E.* ; Pinker, K.* ; Grimm, J.* ; Jüstel, D. ; Ntziachristos, V.
  
  In: (Photons Plus Ultrasound: Imaging and Sensing 2025, 26-29 January 2025, San Francisco). 2025.:1331905 (Proc. SPIE ; 13319)
 
  Gorpas, D. ; Ntziachristos, V.
  
  In: (Design and Quality for Biomedical Technologies XVIII, San Francisco). 1000 20th St, Po Box 10, Bellingham, Wa 98227-0010 Usa: Spie-int Soc Optical Engineering, 2025. DOI: 10.1117/12.3041715 (Proc. SPIE ; 13308)
 
  Arcas, M.B.* ; Osuala, R. ; Lekadir, K.* ; Diaz, O.*
  
  In: (17th International Workshop on Breast Imaging, IWBI 2024, 9-12 June 2024, Chicago, US). 1000 20th St, Po Box 10, Bellingham, Wa 98227-0010 Usa: Spie-int Soc Optical Engineering, 2024.:1317421 (Proc. SPIE ; 13174)
 
  Dehner, C. ; Ntziachristos, V. ; Jüstel, D. ; Zahnd, G.
  
  In: (Photons Plus Ultrasound: Imaging and Sensing 2024, 28-31 January 2024, San Francisco). 1000 20th St, Po Box 10, Bellingham, Wa 98227-0010 Usa: Spie-int Soc Optical Engineering, 2024.:128420D (Proc. SPIE ; 12842)
 
  Garcia, E.B.G.* ; Lladó, X.* ; Mann, R.M.* ; Osuala, R. ; Martí, R.*
  
  In: (17th International Workshop on Breast Imaging, IWBI 2024, 9-12 June 2024, Chicago, US). 1000 20th St, Po Box 10, Bellingham, Wa 98227-0010 Usa: Spie-int Soc Optical Engineering, 2024.:131740S (Proc. SPIE ; 13174)
 
  Jüstel, D. ; Irl, H.* ; Hinterwimmer, F.* ; Dehner, C. ; Simson, W.* ; Navab, N.* ; Schneider, G.* ; Ntziachristos, V.
  
  In: (Proceedings Volume 12842, Photons Plus Ultrasound: Imaging and Sensing 2024, San Francisco, California, United States). 1000 20th St, Po Box 10, Bellingham, Wa 98227-0010 Usa: Spie-int Soc Optical Engineering, 2024.:1284202 (Proc. SPIE ; 12842)
 
  Kim, M. ; Lee, H.R.* ; Ossikovski, R.* ; Jobart-Malfait, A.* ; Lamarque, D.* ; Novikova, T.*
  
  In: (Liquid Crystals Optics and Photonic Devices 2024, 8-11 April 2024, Strasbourg). 1000 20th St, Po Box 10, Bellingham, Wa 98227-0010 Usa: Spie-int Soc Optical Engineering, 2024. DOI: 10.1117/12.3021846 (Proc. SPIE ; 13016)
 
  Osuala, R. ; Joshi, S.* ; Tsirikoglou, A.* ; Garrucho, L.* ; Pinaya, W.H.L.* ; Diaz, O.* ; Lekadir, K.*
  
  In: (Conference on Medical Imaging - Image Processing, 19-22 Februar 2024, San Diego, California). 1000 20th St, Po Box 10, Bellingham, Wa 98227-0010 Usa: Spie-int Soc Optical Engineering, 2024.:129260Y (Proc. SPIE ; 12926)
 
  Petzold, L.M.* ; Busse, M.* ; Mohr, H. ; Pellegata, N.S. ; Pfeiffer, F.* ; Herzen, J.*
  
  In: (15th SPIE Conference on Developments in X-Ray Tomography, 19-22 August 2024, San Diego). 1000 20th St, Po Box 10, Bellingham, Wa 98227-0010 Usa: Spie-int Soc Optical Engineering, 2024.:1315205 (Proc. SPIE ; 13152)
 
  Reithmeir, A.* ; Schnabel, J.A. ; Zimmer, V.A.
  
  In: (SPIE Medical Imaging, 2024, San Diego, California). 1000 20th St, Po Box 10, Bellingham, Wa 98227-0010 Usa: Spie-int Soc Optical Engineering, 2024. (Proc. SPIE ; 12926)
 
  Bihler, M.* ; Roming, L.* ; Jiang, Y.* ; Afifi, A.J.* ; Aderhold, J.* ; Čibiraitė-Lukenskienė, D.* ; Lorenz, S.* ; Gloaguen, R.* ; Gruna, R.* ; Heizmann, M.*
  
  Proc. SPIE 12623 (2023)
 
  Blauth, E.* ; Kubitschke, H.* ; Wolf, B.* ; Kovacs, P.* ; Blüher, M. ; Dornhöfer, N.* ; Aktas, B.* ; Käs, J.A.*
  
  Proc. SPIE 12649, DOI: 10.1117/12.2681388 (2023)
 
  Ezhov, I.* ; Giannoni, L.* ; Shit, S.* ; Lange, F.* ; Kofler, F. ; Menze, B.* ; Tachtsidis, I.* ; Rueckert, D.*
  
  In: (Diffuse Optical Spectroscopy and Imaging IX 2023, 25-28 June 2023, Munich). 2023. (Proc. SPIE ; 12628)
 
  Yuan, T. ; Gasparin, F. ; Uluc, N. ; Ntziachristos, V. ; Pleitez, M.A.
  
  Proc. SPIE 12392:1239202 (2023)
 
  Degtyaruk, O. ; Mc Larney, B. ; Deán-Ben, X.L.* ; Shoham, S.* ; Razansky, D.
  
  Proc. SPIE 11629:116292D (2021)
 
  Kalva, S.K.* ; Ron, A. ; Periyasamy, V. ; Reiss, M.* ; Deán-Ben, X.L.* ; Razansky, D.
  
  Proc. SPIE 11642:116420A (2021)
 
  Lafci, B.* ; Mercep, E. ; Herraiz, J.L.* ; Deán-Ben, X.L.* ; Razansky, D.
  
  Proc. SPIE 11642:116422L (2021)
 
  Özsoy, Ç.* ; Periyasamy, V. ; Reiss, M.* ; Deán-Ben, X.L.* ; Razansky, D.
  
  Proc. SPIE 11642:116422K (2021)
 
  Deán-Ben, X.L.* ; Degtyaruk, O. ; Razansky, D.
  
  Proc. SPIE 11240 (2020)
 
  Özsoy, Ç.* ; Özbek, A. ; Dean-Ben, X.L.* ; Razansky, D.
  
  Proc. SPIE 11240 (2020)
 
  Ahrens, M.* ; Idel, C.* ; Chaker, A. ; Wollenberg, B.* ; König, P.* ; Schulz-Hildebrandt, H.* ; Hüttmann, G.*
  
  Proc. SPIE 11073 (2019)
 
  Chen, Z. ; Deán-Ben, X.L.* ; Özbek, A. ; Rebling, J.* ; Razansky, D.
  
  Proc. SPIE 10878 (2019)
 
  Dean-Ben, X.L. ; Razansky, D.
  
  Proc. SPIE 10878 (2019)
 
  Dean-Ben, X.L. ; Özbek, A. ; Razansky, D.
  
  Proc. SPIE 10878 (2019)
 
  Estrada, H. ; Razansky, D.
  
  Proc. SPIE 10878 (2019)
 
  Gorpas, D. ; Anastasopoulou, M. ; Koch, M. ; Klemm, U. ; Nieberler, M.* ; Ntziachristos, V.
  
  Proc. SPIE 11079:1107913 (2019)
 
  Ivankovic, I. ; Lin, H.-C. ; Dean-Ben, X.L. ; Zhang, Z.* ; Trautz, B.* ; Gorlach, A.* ; Razansky, D.
  
  Proc. SPIE 10878 (2019)
 
  Morgan, K.S.* ; Gradl, R.* ; Dierolf, M.* ; Jud, C.* ; Günther, B.* ; Werdiger, F.* ; Gardner, M.* ; Cmielewski, P.* ; McCarron, A.* ; Farrow, N.* ; Haas, H.* ; Kimm, M.A.* ; Yang, L.* ; Kutschke, D. ; Stöger, T. ; Schmid, O. ; Achterhold, K.* ; Pfeiffer, F.* ; Parsons, D.* ; Donnelley, M.*
  
  Proc. SPIE 11113:111130G (2019)
 
  Oyaga Landa, F.J. ; Özsoy, C. ; Dean-Ben, X.L. ; Razansky, D.
  
  Proc. SPIE 10878 (2019)
 
  Periyasamy, V. ; Özsoy, Ç.* ; Reiss, M.* ; Deán-Ben, X.L.* ; Razansky, D.
  
  Proc. SPIE 11077 (2019)
 
  Psycharakis, S.E.* ; Liapis, E. ; Zacharopoulos, A.* ; Oraiopoulou, M.E.* ; Aivalioti, C.* ; Sakkalis, V.* ; Papamatheakis, J.* ; Ripoll, J.* ; Zacharakis, G.*
  
  Proc. SPIE 11076, DOI: 10.1117/12.2527214 (2019)
 
  Redelstein, J.* ; Budde, M.* ; Cyrys, J. ; Emeis, S.* ; Gratza, T.* ; Grimm, H.* ; Hank, M.* ; Holst, C.* ; Münkel, C.* ; Pesch, M.* ; Petersen, E.* ; Philipp, A.* ; Riedel, T.* ; Riesterer, J.* ; Schäfer, K.* ; Schnelle-Kreis, J. ; Uhrner, U.* ; Werhahn, J.* ; Ziegler, V.* ; Beigl, M.*
  
  Proc. SPIE 11152:111520N (2019)
 
  Seeger, M. ; Westmeyer, G.G. ; Ntziachristos, V.
  
  Proc. SPIE 11077 (2019)
 
  Seyedebrahimi, M.M. ; Pleitez, M.A. ; Mohajerani, P. ; Ntziachristos, V.
  
  In: (European Conferences on Biomedical Optics, Munich, Germany). 2019. (Proc. SPIE ; 11077)
 
  Yang, H. ; Jüstel, D. ; Prakash, J. ; Ntziachristos, V.
  
  Proc. SPIE 10890:108902 (2019)
 
  Chen, Z. ; Dean-Ben, X.L. ; Gottschalk, S. ; Razansky, D.
  
  Proc. SPIE 10494:104946C (2018)
 
  Chen, Z. ; Mc Larney, B. ; Rebling, J. ; Dean-Ben, X.L. ; Gottschalk, S. ; Razansky, D.
  
  Proc. SPIE 10816, DOI: 10.1117/12.2500907 (2018)
 
  Dean-Ben, X.L. ; López-Schier, H. ; Razansky, D.
  
  Proc. SPIE 10494:104940R (2018)
 
  Dean-Ben, X.L. ; Razansky, D.
  
  Proc. SPIE 10494:104941X (2018)
 
  Gorpas, D. ; Koch, M. ; Anastasopoulou, M. ; Klemm, U. ; Ntziachristos, V.
  
  Proc. SPIE 10677 (2018)
 
  Kumar, K.G.* ; Saeid Nezhad, N.* ; Mueller, B.H.* ; Tischenko, O. ; Hoeschen, C.*
  
  Proc. SPIE 10573:105732L (2018)
 
  Lu, T.* ; Wang, Y.* ; Gao, F.* ; Zhao, H.* ; Ntziachristos, V. ; Li, J.*
  
  Proc. SPIE 10494:104943R (2018)
 
  Oda, H.* ; Roth, H.R.* ; Bhatia, K.K.* ; Oda, M.* ; Kitasaka, T.* ; Iwano, S.* ; Homma, H.* ; Takabatake, H.* ; Mori, M.* ; Natori, H.* ; Schnabel, J.A.* ; Mori, K.*
  
  Proc. SPIE 10575 (2018)
 
  Oyaga Landa, F.J. ; Ronda Penacoba, S.* ; Dean-Ben, X.L. ; Montero de Espinosa, F.* ; Razansky, D.
  
  Proc. SPIE 10494:104945J (2018)
 
  Oyaga Landa, F.J. ; Dean-Ben, X.L. ; Sroka, R.* ; Razansky, D.
  
  Proc. SPIE 10494:104940D (2018)
 
  Rebling, J. ; Oyaga Landa, F.J. ; Dean-Ben, X.L. ; Razansky, D.
  
  Proc. SPIE 10488:1048805 (2018)
 
  Redelstein, J.* ; Budde, M.* ; Cyrys, J. ; Emeis, S.* ; Gratza, T.* ; Grimm, H.* ; Hank, M.* ; Hinterreiter, S.* ; Münkel, C.* ; Pesch, M.* ; Petersen, E.* ; Philipp, A.* ; Riedel, T.* ; Riesterer, J.* ; Schäfer, K.* ; Schnelle-Kreis, J. ; Uhrner, U.* ; Werhahn, J.* ; Ziegler, V.* ; Beigl, M.*
  
  Proc. SPIE 10786:107860B (2018)
 
  Shnaiderman, R. ; Wissmeyer, G. ; Seeger, M. ; Estrada, H. ; Ntziachristos, V.
  
  Proc. SPIE 10494:104942M (2018)
 
  Szmul, A.* ; Papiez, B.W.* ; Matin, T.* ; Gleeson, F.V.* ; Schnabel, J.A.* ; Grau, V.*
  
  Proc. SPIE 10576 (2018)
 
  Abadi, E.* ; Sturgeon, G.M.* ; Agasthya, G.* ; Harrawood, B.* ; Hoeschen, C. ; Kapadia, A.* ; Segars, W.P.* ; Samei, E.*
  
  Proc. SPIE 10132:101321Q (2017)
 
  Anastasopoulou, M. ; Gorpas, D. ; Koch, M. ; Garcia-Allende, P. ; Klemm, U. ; Karlas, A. ; Ntziachristos, V.
  
  Proc. SPIE 10411:104110J (2017)
 
  Bozhko, D. ; Gorpas, D. ; Jaffer, F.A.* ; Ntziachristos, V.
  
  Proc. SPIE 10415:1041502 (2017)
 
  Budde, M.* ; Riedel, T.* ; Beigl, M.* ; Schäfer, K.* ; Emeis, S.* ; Cyrys, J. ; Schnelle-Kreis, J. ; Philipp, A.* ; Ziegler, V.* ; Grimm, H.* ; Gratza, T.*
  
  Proc. SPIE 10424:104240C (2017)
 
  Dean-Ben, X.L. ; Fehm, T. ; Ford, S.J. ; Gottschalk, S. ; Razansky, D.
  
  Proc. SPIE 10064 (2017)
 
  Dean-Ben, X.L. ; Ding, L ; Razansky, D.
  
  Proc. SPIE 10064 (2017)
 
  Ding, L ; Dean-Ben, X.L. ; Burton, N.C.B.* ; Sobol, R.W.* ; Ntziachristos, V. ; Razansky, D.
  
  Proc. SPIE 10064:100641B (2017)
 
  Estrada, H. ; Turner, J.E. ; Kneipp, M. ; Razansky, D.
  
  Proc. SPIE 10064:100642L (2017)
 
  Estrada, H. ; Rebling, J. ; Razansky, D.
  
  Proc. SPIE 10067:1006710 (2017)
 
  Gorpas, D. ; Koch, M. ; Anastasopoulou, M. ; Klemm, U. ; Ntziachristos, V.
  
  Proc. SPIE 10413:104130J (2017)
 
  Gromann, L.B.* ; Scherer, K.* ; Yaroshenko, A.* ; Bölükbas, D.A. ; Hellbach, K.* ; Meinel, F.G.* ; Braunagel, M.* ; Eickelberg, O. ; Reiser, M.F.* ; Pfeiffer, F.* ; Meiners, S. ; Herzen, J.*
  
  Proc. SPIE 10132:101325L (2017)
 
  He, H. ; Wissmeyer, G. ; Ovsepian, S.V. ; Bühler, A. ; Ntziachristos, V.
  
  Proc. SPIE 10064:100641C (2017)
 
  He, H. ; Prakash, J. ; Bühler, A. ; Ntziachristos, V.
  
  Proc. SPIE 10064:100642N (2017)
 
  Koch, M. ; de Jong, J.S.* ; Glatz, J. ; Symvoulidis, P. ; Lamberts, L.E.* ; Adams, A.L.L.* ; Kranendonk, M.E.G.* ; van Scheltinga, A.T.* ; Aichler, M. ; Jansen, L.* ; de Vries, J.* ; Lub-de Hooge, M.* ; Schröder, C.P.* ; Jorritsma-Smit, A.* ; Linssen, M.D.* ; de Boer, E.* ; van der Vegt, B.* ; Nagengast, W.B.* ; Elias, S.G.* ; Oliveira, S.* ; Witkamp, A.J.* ; Mali, W.P.Th.M.* ; van der Wall, E.* ; Garcia-Allende, P. ; van Diest, P.J.* ; de Vries, E.G.* ; Walch, A.K. ; van Dam, G.M.* ; Ntziachristos, V.
  
  Proc. SPIE 10411:104110F (2017)
 
  Li, J.* ; Zhang, S.* ; Chekkoury, A. ; Glasl, S. ; Vetschera, P. ; Koberstein-Schwarz, B. ; Omar, M. ; Ntziachristos, V.
  
  Proc. SPIE 10064:100643C (2017)
 
  Lin, H.-C. ; Dutta, R.* ; Mandal, S. ; Kind, A.* ; Schnieke, A.* ; Razansky, D.
  
  Proc. SPIE 10043:100430K (2017)
 
  Lin, H.-C. ; Dean-Ben, X.L. ; Kimm, M.* ; Kosanke, K.* ; Haas, H.* ; Meier, R.* ; Lohöfer, F.* ; Wildgruber, M.* ; Razansky, D.
  
  Proc. SPIE 10064:100641D (2017)
 
  Omar, M. ; Rebling, J. ; Wicker, K. ; Schmitt-Manderbach, T. ; Schwarz, M. ; Gateau, J.* ; López-Schier, H. ; Mappes, T.* ; Ntziachristos, V.
  
  Proc. SPIE 10064:100640Z (2017)
 
  Oyaga Landa, F.J. ; Dean-Ben, X.L. ; Montero de Espinosa, F.* ; Razansky, D.
  
  Proc. SPIE 10064:100640H (2017)
 
  Oyaga Landa, F.J. ; Dean-Ben, X.L. ; Montero de Espinosa, F.* ; Razansky, D.
  
  Proc. SPIE 10415:104150A (2017)
 
  Rebling, J. ; Estrada, H. ; Zwack, M.K.* ; Sela, G. ; Gottschalk, S. ; Razansky, D.
  
  Proc. SPIE 10064:100644T (2017)
 
  Rebling, J. ; Warshavski, O.* ; Meynier, C.* ; Razansky, D.
  
  Proc. SPIE 10139:101391K (2017)
 
  Rebling, J. ; Estrada, H. ; Gottschalk, S. ; Razansky, D.
  
  Proc. SPIE 10415 (2017)
 
  Rosentreter, T. ; Müller, B.* ; Schlattl, H. ; Hoeschen, C.
  
  Proc. SPIE 10132:101325P (2017)
 
  Schlattl, H.
  
  Proc. SPIE 10132:1013241 (2017)
 
  Seeger, M. ; Karlas, A. ; Soliman, D. ; Pelisek, J.* ; Ntziachristos, V.
  
  Proc. SPIE 10064:1006455 (2017)
 
  Tischenko, O. ; Saeednejad, N.* ; Hoeschen, C.*
  
  Proc. SPIE 10132:101322Q (2017)
 
  Wissmeyer, G. ; Shnaiderman, R. ; Soliman, D. ; Ntziachristos, V.
  
  Proc. SPIE 10064:1006423 (2017)
 
  Dean-Ben, X.L. ; Pang, G.A. ; de Espinosa, F.M.* ; Razansky, D.
  
  Proc. SPIE 9708:97081W (2016)
 
  Dean-Ben, X.L. ; Stiel, A.-C. ; Jiang, Y. ; Ntziachristos, V. ; Westmeyer, G.G. ; Razansky, D.
  
  Proc. SPIE 9708:970825 (2016)
 
  Dean-Ben, X.L. ; Estrada, H. ; Özbek, A. ; Razansky, D.
  
  Proc. SPIE 9717:97171L (2016)
 
  Dean-Ben, X.L. ; Ermolayev, V. ; Mandal, S. ; Ntziachristos, V. ; Razansky, D.
  
  Proc. SPIE 9708:970822 (2016)
 
  Estrada, H. ; Rebling, J. ; Turner, J.E. ; Kneipp, M. ; Shoham, S.* ; Razansky, D.
  
  Proc. SPIE 9708:97080M (2016)
 
  Fehm, T. ; Dean-Ben, X.L. ; Schaur, P.* ; Sroka, R.* ; Razansky, D.
  
  Proc. SPIE 9708:97080F (2016)
 
  He, H. ; Mandal, S. ; Bühler, A. ; Dean-Ben, X.L. ; Razansky, D. ; Ntziachristos, V.
  
  Proc. SPIE 9708:97082A (2016)
 
  He, H. ; Bühler, A. ; Ntziachristos, V.
  
  Proc. SPIE 9708:97080J (2016)
 
  Koberstein-Schwarz, B. ; Omlor, L.* ; Schmitt-Manderbach, T.* ; Mappes, T.* ; Ntziachristos, V.
  
  Proc. SPIE 9713:971319 (2016)
 
  Omar, M. ; Schwarz, M. ; Soliman, D. ; Symvoulidis, P. ; Ntziachristos, V.
  
  Proc. SPIE 9708:97080S (2016)
 
  Schwarz, M. ; Aguirre Bueno, J. ; Soliman, D. ; Bühler, A. ; Ntziachristos, V.
  
  Proc. SPIE 9708:970855 (2016)
 
  Soliman, D. ; Tserevelakis, G.J.* ; Omar, M. ; Ntziachristos, V.
  
  Proc. SPIE 9708:97083B (2016)
 
  Warshavski, O.* ; Meynier, C.* ; Senegond, N.* ; Chatain, P.* ; Rebling, J. ; Razansky, D. ; Felix, N.* ; Nguyen-Dinh, A.*
  
  Proc. SPIE 9708:970830 (2016)
 
  Ziegle, J.* ; Müller, B.H.* ; Neumann, B.* ; Hoeschen, C.
  
  Proc. SPIE 9783:97832C (2016)
 
  Dean-Ben, X.L. ; Estrada, H. ; Ozbek, A. ; Razansky, D.
  
  Proc. SPIE 9540:95400K (2015)
 
  Dean-Ben, X.L. ; Fehm, T. ; Gottschalk, S. ; Bay, E. ; Razansky, D.
  
  Proc. SPIE 9539:95391A (2015)
 
  Dean-Ben, X.L. ; Bay, E. ; Razansky, D.
  
  Proc. SPIE 9323 (2015)
 
  Dean-Ben, X.L. ; Gottschalk, S. ; Fehm, T. ; Razansky, D.
  
  Proc. SPIE 9323 (2015)
 
  Ding, L ; Dean-Ben, X.L. ; Lutzweiler, C. ; Razansky, D. ; Ntziachristos, V.
  
  Proc. SPIE 9539:953919 (2015)
 
  Fehm, T. ; Dean-Ben, X.L. ; Razansky, D.
  
  Proc. SPIE 9323:93232X (2015)
 
  Ford, S.J. ; Dean-Ben, X.L. ; Razansky, D.
  
  Proc. SPIE 9323:93231U (2015)
 
  Han, Y. ; Ntziachristos, V. ; Rosenthal, A.
  
  Proc. SPIE 9539:953915 (2015)
 
  Mandal, S. ; Nasonova, E.* ; Dean-Ben, X.L. ; Razansky, D.
  
  Proc. SPIE 9323:93232Q (2015)
 
  Omar, M. ; Soliman, D. ; Gateau, J.* ; Ntziachristos, V.
  
  Proc. SPIE 9323:932326 (2015)
 
  Omar, M. ; Soliman, D. ; Gateau, J.* ; Ntziachristos, V.
  
  Proc. SPIE 9539:95390U (2015)
 
  Pang, G.A. ; Bay, E. ; Dean-Ben, X.L. ; Razansky, D.
  
  Proc. SPIE 9323:932308 (2015)
 
  Schwarz, M. ; Aguirre Bueno, J. ; Bühler, A. ; Omar, M. ; Ntziachristos, V.
  
  Proc. SPIE 9539:95390J (2015)
 
  Soliman, D. ; Tserevelakis, G.J.* ; Omar, M. ; Ntziachristos, V.
  
  Proc. SPIE 9539:953908 (2015)
 
  Bay, E. ; Dean-Ben, X.L. ; Pang, G.A. ; Douplik, A.Y.* ; Razansky, D.
  
  Proc. SPIE 8943:89431N (2014)
 
  Braun, C. ; Schlattl, H. ; Tischenko, O. ; Dietrich, O.* ; Hoeschen, C.
  
  Proc. SPIE 9033:903311 (2014)
 
  Fehringer, A.* ; Lasser, T. ; Zanette, I.* ; Noel, P.B.* ; Pfeiffer, F.*
  
  Proc. SPIE 9034:90344F (2014)
 
  Li, W.B. ; Müllner, M. ; Greiter, M. ; Bissardon, C. ; Xie, W.Z. ; Schlattl, H. ; Oeh, U. ; Li, J.L.* ; Hoeschen, C.
  
  Proc. SPIE 9033:90331K (2014)
 
  Müller, B.H.* ; Hoeschen, C. ; Grüner, F.J.* ; Johnson, T.R.C.*
  
  Proc. SPIE 9033:90331J (2014)
 
  Müllner, M. ; Schlattl, H. ; Oeh, U. ; Hoeschen, C. ; Dietrich, O.*
  
  Proc. SPIE 9033:90334A (2014)
 
  Omar, M. ; Gateau, J.* ; Ntziachristos, V.
  
  Proc. SPIE 8943:89431F (2014)
 
  Petoussi-Henß, N. ; Becker, J. ; Greiter, M. ; Schlattl, H. ; Zankl, M. ; Hoeschen, C.
  
  Proc. SPIE 9033:90331W (2014)
 
  Vogel, J.* ; Duliu, A.* ; Oyamada, Y.* ; Gardiazabal, J.* ; Lasser, T. ; Ziai, M.* ; Hein, R.* ; Navab, N.A.*
  
  Proc. SPIE 9035:90353D (2014)
 
  Yaroshenko, A.* ; Meinel, F.G.* ; Hellbach, K.* ; Bech, M.* ; Velroyen, A.* ; Müller, M.* ; Bamberg, F.* ; Nikolaou, K.* ; Reiser, M.F.* ; Yildirim, A.Ö. ; Eickelberg, O. ; Pfeiffer, F.*
  
  Proc. SPIE 9033:90331M (2014)
 
  Braun, C. ; Tischenko, O. ; Giedl-Wagner, R.* ; Schlattl, H. ; Hoeschen, C.
  
  Proc. SPIE 8668:86684H (2013)
 
  Chekkoury, A. ; Gateau, J.* ; Ntziachristos, V.
  
  Proc. SPIE 8800:880003 (2013)
 
  Dean-Ben, X.L. ; Bühler, A. ; Ntziachristos, V. ; Razansky, D.
  
  Proc. SPIE 8800:88000H (2013)
 
  Dean-Ben, X.L. ; Ntziachristos, V. ; Razansky, D.
  
  Proc. SPIE 8800:88000J (2013)
 
  Doronina, A.* ; Boting, S.* ; Meglinski, M.* ; Jentoft, K. ; Meglinski, I.*
  
  Proc. SPIE 8580:858002 (2013)
 
  Eguizabal, A.* ; Laughney, A.M.* ; Garcia-Allende, P. ; Krishnaswamy, V.* ; Wells, W.A.* ; Paulsen, K.D.* ; Pogue, B.W.* ; Lopez-Higuera, J.M.* ; Conde, O.M.*
  
  Proc. SPIE 8592:85920E (2013)
 
  Enescu, M.* ; Bhushan, M.* ; Hill, E.J.* ; Franklin, J.* ; Anderson, E.M.* ; Sharma, R.A.* ; Schnabel, J.A.*
  
  In:. 2013. (Proc. SPIE ; 8669)
 
  Hoeschen, C. ; Orrison, W.W.* ; Klein, R.D.* ; Reichl, M.M.A.* ; Cartwright, P.*
  
  Proc. SPIE 8668:866804 (2013)
 
  Kellnberger, S. ; Deliolanis, N.C.* ; Queirós, D. ; Sergiadis, G.* ; Ntziachristos, V.
  
  Proc. SPIE 8800:88000A (2013)
 
  Mandal, S. ; Dean-Ben, X.L. ; Razansky, D.
  
  Proc. SPIE 8800:88000K (2013)
 
  Omar, M. ; Kellnberger, S. ; Sergiadis, G.* ; Razansky, D. ; Ntziachristos, V.
  
  Proc. SPIE 8800:88000D (2013)
 
  Ozbek, A.* ; Dean-Ben, X.L. ; Razansky, D.
  
  Proc. SPIE 8800:88000I (2013)
 
  Queirós, D. ; Dean-Ben, X.L. ; Bühler, A. ; Razansky, D. ; Rosenthal, A. ; Ntziachristos, V.
  
  Proc. SPIE 880:88000C (2013)
 
  Rosenthal, A. ; Razansky, D. ; Ntziachristos, V.
  
  Proc. SPIE 8600, 23 (2013)
 
  Wegrzecki, M.* ; Bar, J.* ; Budzynski, T.* ; Ciez, M.* ; Grabiec, P.* ; Kozlowski, R.* ; Kulawik, J.* ; Panas, A.* ; Sarnecki, J.* ; Slysz, W.* ; Szmigiel, D.* ; Wegrzecka, I.* ; Wielunski, M. ; Witek, K.* ; Yakushev, A.* ; Zaborovski, M.*
  
  Proc. SPIE 8902:890212 (2013)
 
  Brunner, C.C. ; Tischenko, O. ; de las Heras, H. ; Renger, B.* ; Schlattl, H. ; Hoeschen, C.
  
  In: Pelc, N.J.* ; Nishikawa, R.M.* ; Whiting, B.R.* [Eds.]: Medical Imaging 2012 (SPIE Medical Imaging 2012: Physics of Medical Imaging, 04. - 09.02.12, San Diego, USA). Bellingham, USA: International Soc. for Optics and Photonics, 2012.:83132M (Proc. SPIE ; 8313)
 
  Eguizabal, A.* ; Laughney, A.M.* ; Garcia-Allende, P. ; Krishnaswamy, V.* ; Wells, W.A.* ; Paulsen, K.D.* ; Pogue, B.W.* ; Lopez-Higuera, J.M.* ; Conde, O.M.*
  
  Proc. SPIE 8230:823014 (2012)
 
  Eguizabal, A.* ; Laughney, A.M.* ; Garcia-Allende, P. ; Krishnaswamy, V.* ; Wells, W.A.* ; Paulsen, K.D.* ; Pogue, B.W.* ; Lopez-Higuera, J.M.* ; Conde, O.M.*
  
  Proc. SPIE 8230:823010 (2012)
 
  Garcia-Allende, P. ; Amygdalos, I.* ; Dhanapala, H.* ; Goldin, R.D.F.* ; Hanna, G.B.* ; Elson, D.S.*
  
  Proc. SPIE 8213:821328 (2012)
 
  Jiao, J.* ; Salinas, C.A.* ; Searle, G.E.* ; Gunn, R.N.* ; Schnabel, J.A.*
  
  Proc. SPIE 8314:83140A (2012)
 
  Mohajer, M. ; Schmid, V.J.* ; Engels, N. A.* ; Noel, P. B.* ; Rummeny, E.* ; Englmeier, K.-H.
  
  Proc. SPIE 8317:83171K (2012)
 
  Morscher, S.* ; Burton, N.C. ; Taruttis, A. ; Deliolanis, N.C. ; Razansky, D. ; Ntziachristos, V.
  
  Proc. SPIE 8223:822330 (2012)
 
  Omar, M. ; Kellnberger, S. ; Sergiadis, G.* ; Razansky, D. ; Ntziachristos, V.
  
  Proc. SPIE 8223:82231O (2012)
 
  Rieger, B. ; Noel, P.B.* ; Tischenko, O. ; Rummeny, E.J.* ; Hoeschen, C.
  
  In: Pelc, N.J.* ; Nishikawa, R.M.* ; Whiting, B.R.* [Eds.]: Proceedings (SPIE Medical Imaging 2012: Physics of Medical Imaging, 04. - 09.02.12, San Diego, USA). Bellingham, USA: International Soc. for Optics and Photonics, 2012.:83133K (Proc. SPIE ; 8313)
 
  Schlattl, H. ; Zankl, M. ; Hoeschen, C.
  
  In: Pelc, N.J.* ; Nishikawa, R.M.* ; Whiting, B.R.* [Eds.]: Proceedings (SPIE Medical Imaging 2012: Physics of Medical Imaging, 04. - 09.02.12, San Diego, USA). Bellingham, USA: International Soc. for Optics and Photonics, 2012.:83131P (Proc. SPIE ; 8313)
 
  Taruttis, A. ; Razansky, D. ; Ntziachristos, V.
  
  In: Oraevsky, A.A.* ; Wang, L.V.* [Eds.]: Proceedings (SPIE Photons Plus Ultrasound: Imaging and Sensing 2012). Bellingham, USA: International Soc. for Optics and Photonics, 2012.:822302 (Proc. SPIE ; 8223)
 
  Brunner, C.C. ; Renger, B.* ; Hoeschen, C. ; Kyprianou, I.S.*
  
  Proc. SPIE 7961:79613C (2011)
 
  Bühler, A. ; Herzog, E. ; Razansky, D. ; Ntziachristos, V.
  
  Proc. SPIE 7899:789914 (2011)
 
  Dean-Ben, X.L. ; Razansky, D. ; Ntziachristos, V.
  
  Proc. SPIE 7899:789930 (2011)
 
  Dean-Ben, X.L. ; Ntziachristos, V. ; Razansky, D.
  
  Proc. SPIE 8090:809013 (2011)
 
  Dean-Ben, X.L. ; Razansky, D. ; Ntziachristos, V.
  
  Proc. SPIE 8090:809014 (2011)
 
  Dean-Ben, X.L. ; Razansky, D. ; Ntziachristos, V.
  
  Proc. SPIE 8090:809017 (2011)
 
  Hoeschen, C. ; Regulla, D.F. ; Schlattl, H. ; Petoussi-Henß, N. ; Li, W.B. ; Zankl, M.
  
  Proc. SPIE 7961:79612F (2011)
 
  Jetzfellner, T. ; Rosenthal, A. ; Bühler, A. ; Dima, A. ; Englmeier, K.-H. ; Ntziachristos, V. ; Razansky, D.
  
  Proc. SPIE 7899:78991Y (2011)
 
  Kellnberger, S. ; Hajiaboli, A. ; Sergiadis, G. ; Razansky, D. ; Ntziachristos, V.
  
  Proc. SPIE 8089:808905 (2011)
 
  Li, W.B. ; Janzen, T. ; Zankl, M. ; Giussani, A. ; Hoeschen, C.
  
  Proc. SPIE 7961, 796129 (2011)
 
  Morioka, C.* ; Turner, A.* ; McNitt-Gray, M.* ; Zankl, M. ; Meng, F.* ; El-Saden, S.*
  
  Proc. SPIE 7967:79670X (2011)
 
  Morscher, S. ; Glatz, J. ; Deliolanis, N. ; Bühler, A. ; Razansky, D. ; Ntziachristos, V.
  
  Proc. SPIE 7899:78993D (2011)
 
  Morscher, S. ; Glatz, J. ; Deliolanis, N.C. ; Bühler, A. ; Sarantopoulos, A. ; Razansky, D. ; Ntziachristos, V.
  
  Proc. SPIE 8089:80890R (2011)
 
  Müller, B. ; Schlattl, H. ; Grüner, F.* ; Hoeschen, C.
  
  Proc. SPIE 7961:796106 (2011)
 
  Müller, N.S.* ; Krumsiek, J. ; Theis, F.J. ; Böhm, C.* ; Meyer-Bäse, A.*
  
  Proc. SPIE 8058:805819 (2011)
 
  Oancea, A. ; Razansky, D. ; Ntziachristos, V.
  
  Proc. SPIE 8089:808908 (2011)
 
  Razansky, D. ; Harlaar, N.J. ; Hillebrands, J.-L.* ; Taruttis, A. ; Herzog, E. ; Zeebregts, C.J.* ; van Dam, G.M.* ; Ntziachristos, V.
  
  Proc. SPIE 7899:789905 (2011)
 
  Razansky, D. ; Kellnberger, S. ; Ntziachristos, V.
  
  Proc. SPIE 7899:78993B (2011)
 
  Razansky, D. ; Rozental, A.* ; Müller, M.S.* ; Deliolanis, N. ; Jaffer, F.A.* ; Koch, A.W.* ; Ntziachristos, V.
  
  Proc. SPIE 7894:78940K (2011)
 
  Regulla, D.F.
  
  Proc. SPIE 7961:79612D (2011)
 
  Rosenthal, A. ; Jetzfellner, T. ; Razansky, D. ; Ntziachristos, V.
  
  Proc. SPIE 7899:78992R (2011)
 
  Rosenthal, A. ; Ntziachristos, V. ; Razansky, D.
  
  Proc. SPIE 7899:78992L (2011)
 
  Rosenthal, A. ; Ntziachristos, V. ; Razansky, D.
  
  Proc. SPIE 7899:78992S (2011)
 
  Schäfer, K.* ; Emeis, S.* ; Höß, M.* ; Cyrys, J. ; Pitz, M. ; Munkel, C.* ; Suppan, P.
  
  Proc. SPIE 8177:81770H (2011)
 
  Taruttis, A. ; Herzog, E. ; Razansky, D. ; Ntziachristos, V.
  
  Proc. SPIE 7899:789913 (2011)
 
  Brunner, C.C. ; Hurowitz, S.A.* ; Abboud, S.F.* ; Hoeschen, C. ; Kyprianou, I.S.*
  
  Proc. SPIE 7622:76224Z (2010)
 
  Glatz, J. ; Deliolanis, N.C.* ; Ding, L* ; Taruttis, A.* ; Rosenthal, A.* ; Razansky, D. ; Ntziachristos, V.
  
  Proc. SPIE 7564:75642Z (2010)
 
  Greiter, M. ; Hoeschen, C.
  
  Proc. SPIE 7622:76224P (2010)
 
  Janzen, T. ; Tavola, F.* ; Giussani, A. ; Cantone, M.C.* ; Uusijärvi, H.* ; Mattsson, S.* ; Zankl, M. ; Petoussi-Henß, N. ; Hoeschen, C.
  
  Proc. SPIE 7626:76261E (2010)
 
  Ma, R. ; Ntziachristos, V. ; Razansky, D.
  
  Proc. SPIE 7564:756429 (2010)
 
  Mohajer, M. ; Brix, G. ; Englmeier, K.-H.
  
  Proc. SPIE 7626:76260R (2010)
 
  Razansky, D. ; Baeten, J. ; Ntziachristos, V.
  
  Proc. SPIE 7564:75640L (2010)
 
  Razansky, D. ; Distel, M. ; Vinegoni, C. ; Ma, R. ; Köster, R.W. ; Ntziachristos, V.
  
  Proc. SPIE 7564:75641R (2010)
 
  Rosenthal, A. ; Razansky, D. ; Ntziachristos, V.
  
  Proc. SPIE 7564:75640S (2010)
 
  Schegerer, A.A. ; Lingenheil, M. ; Klaften, M. ; Förster, T. ; Hrabě de Angelis, M. ; Hoeschen, C.
  
  Proc. SPIE 7622:762230 (2010)
 
  Tischenko, O. ; Schegerer, A.A. ; Xu, Y.* ; Hoeschen, C.
  
  Proc. SPIE 7622:76222F (2010)
 
  Cahill, N.D.* ; Schnabel, J.A.* ; Noble, J.A.* ; Hawkes, D.J.*
  
  Proc. SPIE 7259, DOI: 10.1117/12.811585 (2009)
 
  de las Heras, H.* ; Tischenko, O. ; Schlattl, H. ; Xu, Y.* ; Hoeschen, C.
  
  Proc. SPIE 7258:72585R (2009)
 
  Jetzfellner, T. ; Razansky, D. ; Rosenthal, A.* ; Schulz, R.B.* ; Englmeier, K.-H. ; Ntziachristos, V.
  
  Proc. SPIE 7258, (Suppl.1)  :725812 (2009)
 
  Razansky, D. ; Vinegoni, C.* ; Ntziachristos, V.
  
  Proc. SPIE 7177:71770D (2009)
 
  Razansky, D. ; Vinegoni, C.* ; Ntziachristos, V.
  
  Proc. SPIE 7177:762230 (2009)
 
  Thalhammer, S.
  
  Proc. SPIE 7364:73640B (2009)
 
  Tischenko, O. ; Xu, Y.* ; Goetzfried, T.* ; Bogner, L.* ; Hoeschen, C.
  
  Proc. SPIE 7258:72583F (2009)
 
  Xu, Y.* ; Tischenko, O. ; Hoeschen, C.
  
  Proc. SPIE 7258:72585F (2009)
 
  de las Heras, H. ; Tischenko, O. ; Renger, B.* ; Xu, Y.* ; Hoeschen, C.
  
  Proc. SPIE 6913:691307 (2008)
 
  Palm, C.* ; Penney, G.P.* ; Crum, W.R.* ; Schnabel, J.A.* ; Pietrzyk, U.* ; Hawkes, D.J.*
  
  In: (Medical Imaging, 2008, San Diego). 2008. (Proc. SPIE ; 6914)
 
  Razansky, D. ; Ntziachristos, V.
  
  Proc. SPIE 6856:685617 (2008)
 
  Razansky, D. ; Vinegoni, C.* ; Ntziachristos, V.
  
  Proc. SPIE 6856:685613 (2008)
 
  Schlattl, H. ; Hoeschen, C.
  
  Proc. SPIE 6913:691352 (2008)
 
  Zankl, M. ; Schlattl, H. ; Becker, J. ; Petoussi-Henß, N. ; Hoeschen, C.
  
  Proc. SPIE 6913:69130X (2008)
 
  Condat, L. ; Forster-Heinlein, B. ; van de Ville, D.*
  
  Proc. SPIE 6701, 1-9 (2007)
 
  de las Heras, H. ; Tischenko, O. ; Panzer, W. ; Xu, Y.* ; Hoeschen, C.
  
  Proc. SPIE 6510:65103R (2007)
 
  Englmeier, K.-H. ; Seemann, M.D.*
  
  Proc. SPIE 6511:651110 (2007)
 
  Massopust, P. ; Forster, P.
  
  Proc. SPIE 6701, 670109 (2007)
 
  Schöfer, F.H. ; Schneider, K.* ; Hoeschen, C.
  
  Proc. SPIE 6510:65104L-1 (2007)
 
  Schöfer, F.H. ; Schneider, K.* ; Hoeschen, C.
  
  Proc. SPIE 6510:65104E (2007)
 
  Schulz, R.B. ; Schweiger, M.* ; Andrea, C.D.* ; Valentini, G.* ; Peter, J. ; Cubedduc, R.* ; Arridge, S.R.* ; Semmler, W.
  
  Proc. SPIE 6626:62260N (2007)
 
  Tischenko, O. ; Xu, Y.* ; Hoeschen, C.
  
  Proc. SPIE 6510, 65104I-1 - 65104I-9 (2007)
 
  Chandler, A.G.* ; Netsch, T.* ; Cocosco, C.A.* ; Schnabel, J.A.* ; Hawkes, D.J.*
  
  In:. 2004. 1120-1129 (Proc. SPIE ; 5370 II)
 
  Castellano-Smith, A.D.* ; Hartkens, T.* ; Schnabel, J.A.* ; Hose, R.* ; Liu, H.* ; Hall, W.* ; Truwit, C.* ; Hawkes, D.J.* ; Hill, D.L.G.*
  
  Proc. SPIE 4684, 538-549 (2002)
 
  Englmeier, K.-H. ; Bichler, S. ; Schmid, K. ; Maurino, M.* ; Porta, M.* ; Bek, T.* ; Ege, B.* ; Larsen, O.V.* ; Hejlesen, O.K.*
  
  Proc. SPIE 4683, 230-237 (2002)
 
  Schnabel, J.A.* ; Tanner, C.* ; Castellano-Smith, A.D.* ; Degenhard, A.* ; Hayes, C.* ; Leach, M.O.* ; Hose, D.R.* ; Hill, D.L.G.* ; Hawkes, D.J.*
  
  Proc. SPIE 4684 I, 550-561 (2002)
 
  Siebert, M. ; Englmeier, K.-H. ; v. Eisenhart-Rothe, R.* ; Bringmann, C.* ; Eckstein, F.* ; Bonel, H.* ; Reiser, M.* ; Graichen, H.*
  
  Proc. SPIE 4683, 476-483 (2002)
 
  Tanner, C.* ; Degenhard, A.* ; Schnabel, J.A.* ; Castellano-Smith, A.D.* ; Hayes, C.* ; Sonoda, L.I.* ; Leach, M.O.* ; Hose, D.R.* ; Hill, D.L.G.* ; Hawkes, D.J.*
  
  Proc. SPIE 4684 III, 1807-1818 (2002)
 
  Tingberg, A.* ; Herrmann, C. ; Besjakov, J.* ; Almen, A.* ; Sund, P.* ; Adliene, D.* ; Mattsson, S.* ; Mansson, L.G.* ; Panzer, W.
  
  Proc. SPIE 4683, 338-346 (2002)
 
  Englmeier, K.-H. ; Siebert, M. ; Brüning, R.* ; Scheidler, J.* ; Reiser, M.*
  
  Proc. SPIE 2, 155-162 (2001)
 
  Sund, P.* ; Herrmann, C. ; Tingberg, A.* ; Kheddache, S.* ; Mansson, L.G.* ; Almen, A.* ; Mattsson, S.*
  
  Proc. SPIE 1, 251-257 (2000)
 
  Tingberg, A.* ; Herrmann, C. ; Besjakov, J.* ; Rodenacker, K. ; Almen, A.* ; Sund, P.* ; Mattsson, S.* ; Mansson, L.G.*
  
  Proc. SPIE 1, 34-42 (2000)
 
  Bittner, K.
  
  Proc. SPIE 3813, 410-421 (1999)
 
  Schnabel, J.A.* ; Lemieux, L.* ; Wieshmann, U.C.* ; Arridge, S.R.*
  
  Proc. SPIE 3661, 1367-1376 (1999)
 
  Schnabel, J.A.* ; Arridge, S.R.*
  
  Proc. SPIE 2710, 596-606 (1996)
 
  Altmann, M. ; Herpes, R. ; Künzer, I. ; Englmeier, K.-H.
  
  Proc. SPIE 2434, 335-345 (1995)
 
  Jacoby, R.S.* ; Herpers, R. ; Zwiebel, F.M.* ; Englmeier, K.-H.
  
  Proc. SPIE 2433, 87-98 (1995)
 
  Selige, T. ; Friedrich, K.* ; Vorderbrugge, T.* ; Reinartz, P.* ; Peter, M.*
  
  Proc. SPIE 2314, 292-299 (1995)
 
  Michaelis, M. ; Sommer, G.
  
  Proc. SPIE 2093, 450-461 (1994)
 
  Sassy, T. ; Breiter, N.* ; Sroku, R. ; Ernst, H.*
  
  Proc. SPIE 2078, 453-457 (1994)
 
  Seidlitz, H.K. ; Wessels, J.M.
  
  Proc. SPIE 2083, 108-116 (1994)
 
  Wessels, J.M. ; Beisker, W. ; Seidlitz, H.K.
  
  Proc. SPIE 2078, 363-370 (1994)
 
  Baumgartner, R. ; Beyer, W. ; Friedsam, G. ; Jocham, D. ; Noack, A. ; Sroka, R. ; Stepp, H. ; Unsöld, E.
  
  Proc. SPIE 1649, 91-96 (1992)
 
  Baumgartner, R. ; Kriegmair, M. ; Jocham, D. ; Hofstetter, A.G. ; Huber, R.M. ; Karg, O. ; Haeußinger, K.
  
  Proc. SPIE 1641, 107-112 (1992)
 
  Ruth, B.
  
  Proc. SPIE 1714, 61-72 (1992)
 
  Sassy, T. ; Baumgartner, R. ; Jocham, D. ; Müller, E. ; Unsöld, E. ; Wessels, J.
  
  Proc. SPIE (1992)
 
  Sroka, R. ; Baumgartner, R. ; Buser, A. ; Ell, C. ; Jocham, D. ; Unsöld, E.
  
  Proc. SPIE (1992)
 
  Unsoeld, E.
  
  Proc. SPIE 1524, 138-142 (1992)
 
  Gottschalk, W. ; Hengst, J. ; Sroka, R.C. ; Unsoeld, E.
  
  Proc. SPIE 1427, 320-326 (1991)
 
  Ruth, B.
  
  Proc. SPIE, 131-142 (1991)
 
  Ruth, B.
  
  Proc. SPIE 1521, 131-142 (1991)
 
  Schneckenburger, H. ; Seidlitz, H.K. ; Wessels, J.M. ; Strauß, W.S.L.* ; Rück, A.C.*
  
  Proc. SPIE 1525, 91-98:91 (1991)
 
  Beyer, W. ; Baumgartner, R. ; Ell, C. ; Heinze, A. ; Jocham, D. ; Sroka, R. ; Stepp, H. ; Unsöld, E.
  
  Proc. SPIE 1201, 298-303 (1990)
 
  Beyer, W.F. ; Baumgartner, R. ; Ell, C.M.D. ; Heinze, A. ; Jocham, D. ; Sroka, R.C. ; Stepp, H.G. ; Unsoeld, E.
  
  Proc. SPIE 1201, 298-303 (1990)
 
  Heinze, A. ; Beyer, W. ; Krug, M. ; Schaarschmidt, K. ; Sroka, R. ; Stepp, H. ; Unsöld, E. ; Willital, G.H.
  
  Proc. SPIE 1201, 304 (1990)
 
  Heinze, A. ; Beyer, W.F. ; Krug, M. ; Schaarschmidt, K. ; Sroka, R.C. ; Stepp, H.G. ; Unsoeld, E. ; Willital, G.H.
  
  Proc. SPIE 1201, 304-312 (1990)
 
  Ruth, B.
  
  In: Nielsen, H.O.* [Eds.]: Environment and Pollution Measurement Sensors and Systems. Washington, D.C., 1990. 133-144 (Proc. SPIE ; 1269)
 
  Schneckenburger, H. ; Seidlitz, H.K. ; Wessels, J. ; Rück, A.
  
  Proc. SPIE 1403, 646-652 (1990)
 
  Sroka, R.C. ; Baumgartner, R. ; Beyer, W.F. ; Ell, C.M.D. ; Gebhard, G. ; Heinze, A. ; Jocham, D. ; Unsoeld, E.
  
  Proc. SPIE 1201, 320-326 (1990)
 
  Hutzler, P.J.S. ; Oosterlinck, A.J.
  
  Proc. SPIE 1027 (1989)
 
  Schneckenburger, H.
  
  Proc. SPIE 491, 363-366 (1985)
 
  Hutzler, P.J.S.
  
  Proc. SPIE 515, 433-437 (1984)