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Comparing interface dosimetry with conventional methods and TSEE.

Radiat. Prot. Dosim. 4, 174-176 (1983)
DOI
Open Access Green möglich sobald Postprint bei der ZB eingereicht worden ist.
Dose enhancement factors at plane TEM/metal interfaces have experimentally been determined for photon beams. The measurements were performed ionometrically and, for comparison, with solid state dosemeters. Emphasis was given to TSEE allowing for transition-zone dosimetry on a near-microscopic scale. Dose enhancement of as much as 58 directs interest towards radiological and technical applications.
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Publikationstyp Artikel: Journalartikel
Dokumenttyp Wissenschaftlicher Artikel
Sprache englisch
Veröffentlichungsjahr 1983
HGF-Berichtsjahr 0
ISSN (print) / ISBN 0144-8420
e-ISSN 1742-3406
Quellenangaben Band: 4, Heft: 3-4, Seiten: 174-176 Artikelnummer: , Supplement: ,
Verlag Oxford University Press
Verlagsort Oxford
Begutachtungsstatus Peer reviewed
Scopus ID 0021060826
Erfassungsdatum 1983-12-30