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Weier -, H.U.G.
;
Eisert, W.G.
Two-parameter data-acquisition system for slit-scan chromosome analysis.
Rev. Sci. Instruments
57
, 2902 (1986)
Verlagsversion
DOI
Other License
Open Access Green
möglich sobald Postprint bei der ZB eingereicht worden ist.
Abstract
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Zusatzinfos
Transient digitizers based on RCA flash converters are used to record two-parameter data for chromosome analysis.
Altmetric
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Publikationstyp
Artikel: Journalartikel
Dokumenttyp
Wissenschaftlicher Artikel
Typ der Hochschulschrift
Herausgeber
Korrespondenzautor
Schlagwörter
Keywords plus
ISSN (print) / ISBN
0034-6748
e-ISSN
1089-7623
ISBN
Bandtitel
Konferenztitel
Konferzenzdatum
Konferenzort
Konferenzband
Zeitschrift
Review of Scientific Instruments
Quellenangaben
Band: 57,
Heft: 11,
Seiten: 2902
Artikelnummer: ,
Supplement: ,
Reihe
Verlag
American Institute of Physics (AIP)
Verlagsort
Hochschule
Hochschulort
Fakultät
Veröffentlichungsdatum
0000-00-00
Veröffentlichungsnummer
Anmeldedatum
0000-00-00
Anmelder/Inhaber
weitere Inhaber
Anmeldeland
Priorität
Nichtpatentliteratur
Publikationen
Begutachtungsstatus
Peer reviewed
Institut(e)
Abteilung Zytologie
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