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Weier -, H.U.G. ; Eisert, W.G.

Two-parameter data-acquisition system for slit-scan chromosome analysis.

Rev. Sci. Instruments 57, 2902 (1986)
Verlagsversion DOI
Closed
Open Access Green möglich sobald Postprint bei der ZB eingereicht worden ist.
Transient digitizers based on RCA flash converters are used to record two-parameter data for chromosome analysis.
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Publikationstyp Artikel: Journalartikel
Dokumenttyp Wissenschaftlicher Artikel
Sprache englisch
Veröffentlichungsjahr 1986
HGF-Berichtsjahr 0
ISSN (print) / ISBN 0034-6748
e-ISSN 1089-7623
Zeitschrift Review of Scientific Instruments
Quellenangaben Band: 57, Heft: 11, Seiten: 2902 Artikelnummer: , Supplement: ,
Verlag American Institute of Physics (AIP)
Begutachtungsstatus Peer reviewed
Institut(e) Abteilung Zytologie
DOI 10.1063/1.1139017
Scopus ID 36549099491
Erfassungsdatum 1986-12-31
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